[Igeba] Fw: Tomographic Imaging Now 4X Faster

[Maria Elena Rodriguez Areal]

Webinar para interesados en avances tecnologías , desarrollos de algoritmos y software en microscopia electrónica, que permite optimizar la calidad de imagen y tiempos de procesamiento en adquisición de datos en Microtomografía de rayos X en microscopia electrónica aplicada a muestras geológicas .  Webinar: Iterative Reconstruction


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Webinar: Iterative Reconstruction

Wednesday, May 30, 2018 at 11:00 AM Eastern Daylight Time.
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Maria Elena Rodriguez Areal. 
Correo electrónico: mrodriguezareal en yahoo.com.ar .IGEBAcel 1136419268Profesional de Apoyo CONICET-UBA.
Departamento de Ciencias Geologicas - Geofisica.
Facultad de Ciencias Exactas y Naturales.
Universidad de Buenos Aires.
Ciudad Universitaria.
1428 Buenos Aires.
Republica Argentina.

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   ----- Mensaje reenviado ----- De: ZEISS Microscopy <communications en microscopy.zeiss.com>Para: "mrodriguezareal en yahoo.com.ar" <mrodriguezareal en yahoo.com.ar>Enviado: miércoles, 23 de mayo de 2018 10:01:19 ARTAsunto: imágenes tomográficas ahora 4 veces más rápido
   
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|   Microscopía ZEISS   |   |  Ver en el navegador web .  |

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|   Imágenes tomográficas ahora 4 veces más rápido  Ahora puede obtener imágenes 4 veces más rápido o 4 veces mejor: ¡usted elige!  |   |    |

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|  Estimada Maria Elena Rodriguez Areal, 
 Ya sea que busque resultados más rápidos para su aplicación industrial, acelerando el tiempo de generación de imágenes en su ajetreado laboratorio o impulsando sus resultados a un nivel superior, ¡tenemos buenas noticias! Estamos encantados de anunciar ZEISS OptiRecon: un nuevo módulo para la serie ZEISS Xradia Versa 500 de microscopios de rayos X 3D (XRM) que le permitirá adquirir imágenes de alta calidad en un cuarto del tiempo para muestras geológicas típicas usando un nuevo , técnica avanzada de reconstrucción iterativa. Ahora puede elegir la opción óptima para sus necesidades: imágenes de la misma calidad cuatro veces más rápidas o calidad superior en la misma cantidad de tiempo que la adquisición de imágenes estándar.  

En comparación con otras ofertas de reconstrucción iterativa, ZEISS OptiRecon es 
    
   - Más rápido    

   - Más eficiente    

   - Más fácil de usar 
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|     Construido en una única estación de trabajo avanzada, ZEISS OptiRecon ofrece una combinación de una interfaz de usuario basada en flujo de trabajo que no requiere conocimiento de algoritmos de reconstrucción tomográfica, y una implementación patentada eficiente que permite la reconstrucción de un conjunto de datos típico en aproximadamente tres minutos.     |   |     
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|  "La reconstrucción iterativa es una nueva tecnología clave para mejorar nuestro trabajo en microscopía de rayos X de alta resolución. Nos permitirá abordar procesos in situ que ocurren a escalas de tiempo considerablemente más cortas sin sacrificar la calidad de imagen o la segmentabilidad de los datos. , OptiRecon también tiene aplicaciones potenciales en otras áreas ". 

Dr. Branko Bijeljic 
Departamento de Ciencias de la Tierra e Ingeniería en Imperial College London

 Para obtener más información, consulte papel Optimización de la calidad de imagen y tiempo de adquisición para microtomografía de rayos X basada en laboratorio usando un algoritmo de reconstrucción iterativa  (acceso abierto aquí) , co-autor del Departamento de Ciencias e Ingeniería de la Tierra en el Imperial College de Londres y un equipo en ZEISS Microscopy.  |
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|     ZEISS OptiRecon es el paso más reciente que el grupo de microscopía de rayos X en ZEISS ha llevado a cabo para desarrollar la familia Xradia Versa para satisfacer y superar las necesidades de nuestros usuarios. Como siempre, el sistema está disponible para usuarios existentes como una actualización de campo, o se puede comprar como una capacidad adicional para microscopios de rayos X Xedia XRD 510/520 Versa 3D.
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 Reconstrucción convencional (L) y OptiRecon (R) usando 400 proyecciones  |

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|   Seminario web: Reconstrucción iterativa para microscopía de rayos X.  En este seminario web, el Dr. Matt Andrew discutirá el uso de la reconstrucción iterativa para microscopía de rayos X para acelerar la adquisición de imágenes en comparación con la reconstrucción de proyección trasera filtrada tradicional.

 Lo que vas a aprender 
    
   - Cómo aumentar el rendimiento de microscopía de rayos X   

   - Cómo acelerar la adquisición de imágenes   

   - Evaluar el rendimiento de los algoritmos de reconstrucción   

   - Incorporación de microscopía de rayos X en flujos de trabajo industriales de alto rendimiento   

   
| Regístrate ahora |

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 Altavoz:Â  Matt Andrew, Ph.D 
Técnico en petróleo y gas 
ZEISS Microscopía  |

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|   ZEISS OptiRecon es el paso más reciente que el grupo de microscopía de rayos X en ZEISS ha llevado a cabo para desarrollar la familia Xradia Versa para satisfacer y superar las necesidades de nuestros usuarios. Como siempre, el sistema está disponible para usuarios existentes como una actualización de campo, o se puede pedir como una capacidad adicional para los microscopios de rayos X Xedia XRD 510/520 Versa 3D. 

Para obtener más información sobre OptiRecon o capacidades avanzadas de imágenes de rayos X 3D con ZEISS Xradia Versa, contáctenos.
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|  Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena, Alemania, microscopy en zeiss.com , Director general: Dr. med. Markus Weber, Justus Felix Wehmer, Tribunal de Distrito de Jena, HRB 210.536, identificación del IVA: DE 814 503 774  |   |  Enviar a un amigoHaga clic aquí para reenviar este correo electrónico a un amigo. |

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